Vorträge
neu im Programm:
Di.3.A.3
Automatische Oberflächenprüfung mit Ermittlung von Fehlertiefen und Fehler-höhen mittels Laser- Lichtschnittverfahren, ein Beispiel aus dem Giessereiumfeld
E. Guttengeber, Automation W+R, München
statt:
Neuartiges Laseroptisches Dichtheitsprüfverfahren ohne Testgas
G. Schroff, GEMTEC, Winnenden
Änderungen:
Vortrag Mo.2.A.8 wird von C. Spießberger präsentiert (statt A. Dillenz)
Vortrag Mo.3.A.3 wird von K. Spinnler präsentiert (statt M. Arnold)
Vortrag Mo.3.C.3 wird von C. Köhler präsentiert (statt W. Stiller)
Vortrag Mo.3.A.4 wird von H. Quast präsentiert (statt T. Löffler)
Vortrag Di.1.A.2 wird von J. Prager präsentiert (statt M. Gaal)
Vortrag Di.2.C.1 wird von M. Berke präsentiert (statt W. Roye)
Vortrag Di.2.B.4 wird von T. Heckel präsentiert (statt S. Rühe)
Poster
neu im Programm:
Poster 52
ZfP in Indien: Forschung, Ausbildung und Anwendung. Status, Trends und Potentiale
H. Wolf, Anna University, Materials Science Program, Chennai, Indien
Poster 53
Nachweis der Integrität plattierter Oberflächen am Druckwasserreaktorbe¬hälter (DWR) durch eine optimierte Ultraschallplattierungsprüfung mit dem SAPHIR / SAPHIRplus Prüfsystem
G. Schirner, intelligeNDT Systems & Services, Erlangen
Änderungen:
P 7* wird präsentiert von C. Funk (statt J. Hiller)
P 12* wird präsentiert von C. Niggemann (statt R. Schmitt)
P 17* wird präsentiert von U. Zscherpel (statt K. Osterloh)
P26 wird präsentiert von F. Walte (statt D. Dräger)
P43 wird präsentiert von G. Vogt/ C. Köhler (statt S. Schröder)
P46* wird präsentiert von F. Bessler (statt R. Scheben)
Stornierungen:
Poster 18*
Vergleich zwischen Röntgenröhren- und Synchrotron-basierter Mikrofocus Computer-Tomographie (µCT)
O. Brunke, GE Sensing & Inspection Technologies, Wunstorf
Poster 23*
Automatische Prüfmittelüberwachung für die Magnetpulver- und Eindringprüfung
T. Vetterlein, ITW Tiede, Essingen
Poster 29*
Holographisches Mikrowellensystem für den Heimatschutz und die persönliche Sicherheit
R. Pinchuk, Fraunhofer IZFP, Saarbrücken
Poster 30*
Mikromagnetischer Nachweis von Mikroeigenspannungen 2. und 3. Art
M. Rabung, Fraunhofer IZFP
Sitzungsleitungen
Mo.1.A. Vorträge der Preisträger
Sitzungsleitung F. Schlawne (statt J. Völker)
Mo.4.A. Poster mit Kurzpräsentation
Sitzungsleitung M. Purschke (statt J. Völker)
Di.3.C. Bauwesen I
Sitzungsleitung C.U. Große (statt H. Wiggenhauser)
Mi.1.C. Bauwesen II
Sitzungsleitung H. Wiggenhauser (statt C.U. Große)
Mi.3.C. Nichtmetallische Werkstoffe
Sitzungsleitung C. Spießberger (statt G. Busse)
Mi.4.A. Materialcharakterisierung
Sitzungsleitung M. Stolzenberg (statt J.D. Schnapp)